Использование низкокогерентной и когерентной голографической микроскопии для мониторинга клеточных структур в ходе внешнего воздействия

Анна Александровна Жихорева¹, Андрей Владимирович Белашов¹, Павел Сергеевич Буторин¹, Татьяна Николаевна Беляева², Анна Владимировна Салова², Елена Сергеевна Корнилова², Ирина Владимировна Семенова¹, Олег Святославович Васютинский¹

¹ Физико-технический институт имени А. Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург, Россия
² Институт цитологии Российской академии наук, Санкт-Петербург, Россия

В работе представлены результаты сравнительного анализа точности определения оптических и морфологических параметров клеток разными методами фазовой визуализации при использовании когерентного и низкокогерентного излучения. Основными методами исследования клеточных структур в работе являлись низкокогерентная голографическая микроскопия с использованием фазового модулятора света, фазовая визуализация, основанная на решение уравнение переноса интенсивности, и внеосевая когерентная цифровая голографическая микроскопия. В качестве референтного метода использовалась когерентная голографическая томография с высоким пространственным разрешением, достигнутым за счет эффекта синтетической апертуры. Перечисленные методы использовались для исследования изменений клеточных параметров в ходе внешнего воздействия, запускающего разные типы клеточной гибели. Были показано, что лучшее пространственное разрешение достигается при использовании низкокогерентного излучения, а наибольшая точность определения оптической толщины клеток при когерентной голографической микроскопии.

Ключевые слова: количественный фазовый имиджинг, цифровая голографическая микроскопия, фазовое изображение, низкокогерентная голография, внеосевая цифровая голография.

Цитирование: Жихорева, А. А. Использование низкокогерентной и когерентной голографической микроскопии для мониторинга клеточных структур в ходе внешнего воздействия / А. А. Жихорева, А. В. Белашов, П. С. Буторин, Т. Н. Беляева, А. В. Салова, Е. С. Корнилова, И. В. Семенова, О. С. Васютинский // HOLOEXPO 2023: 20-я Международная конференция по голографии и прикладным оптическим технологиям (Сочи, 12–15 сентября): Тезисы докладов. — СПб.: Изд-во СПбГЭТУ «ЛЭТИ», 2023. — С. 390–394.