Комплексное использование методов анализа связанных волн и трассировки лучей при проектировании спектрографов с объемно-фазовыми дифракционными решетками
Э. Р. Муслимов1, 2, Н. К. Павлычева1
1 Казанский национальный исследовательский технический университет имени А. Н. Туполева — КАИ, Казань, Россия
2 Aix Marseille Univ, CNRS, CNES, LAM, Marseille, France
В работе рассматриваются принципы проектирования спектрографов с объемно-фазовыми голограммными дифракционными решетками. Принципы базируются на комплексном использовании методов анализа связанных волн и трассировки лучей для расчета и моделирования дифракционной эффективности и спектрального разрешения, соответственно. Показано, что использования предложенной системы принципов позволяет построить новые методики расчета, позволяющие одновременно повысить обе группы характеристики, а также найти новые схемные решения спектрографов. Приведен ряд примеров использования новых решений при разработке спектрографов для промышленности и научных исследований.
Ключевые слова: объемно-фазовые голограммные дифракционные решетки, спектрографы, дифракционная эффективность, спектральное разрешение, методики проектирования.
Цитирование: Муслимов, Э. Р. Комплексное использование методов анализа связанных волн и трассировки лучей при проектировании спектрографов с объемно-фазовыми дифракционными решетками / Э. Р. Муслимов, Н. К. Павлычева // HOLOEXPO 2019 : XVI Международная конференция по голографии и прикладным оптическим технологиям : Тезисы докладов. — М. : МГТУ им. Н. Э. Баумана, 2019. — С. 365–373.