Оценка параметров угловой селективности брэгговских дифракционных решеток для случая предельно малой толщины.
Д. В. Кузьмин1, Д. С. Лушников1, С. Б. Одиноков1, В. В. Маркин1, А. Ю. Жердев1, М. В. Шишова1, А. Ю. Бетин1, В. Ю. Железнов1, Н. В. Никоноров2, С. А. Иванов2
1 Московский государственный технический университет имени Н. Э. Баумана, Москва, Россия
2 Санкт-Петербургский национальный исследовательский университет информационных технологий, механики и оптики, Санкт-Петербург, Россия
В данной статье представлены результаты моделирования для исследования зависимости угловой селективности от толщины объемной голографической решетки, выполненной на новом фоточувствительном материале ФТР-стекле. Реализация метода связанных волн была проведена в среде Matlab.
Ключевые слова: брэгговские решетки, угловая селективность, дифракционные оптические элементы.
Цитирование: Кузьмин, Д. В. Оценка параметров угловой селективности брэгговских дифракционных решеток для случая предельно малой толщины. / Д. В. Кузьмин, Д. С. Лушников, С. Б. Одиноков, В. В. Маркин, А. Ю. Жердев, М. В. Шишова, А. Ю. Бетин, В. Ю. Железнов, Н. В. Никоноров, С. А. Иванов // HOLOEXPO 2019 : XVI Международная конференция по голографии и прикладным оптическим технологиям : Тезисы докладов. — М. : МГТУ им. Н. Э. Баумана, 2019. — С. 258–261.