Методы шерографии для контроля внутренних дефектов изделий аддитивных технологий

Г. Г. Левин, Г. Н. Вишняков, В. Л. Минаев, А. Д. Иванов

ФГУП «Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений», Москва, Россия

Рассмотрено практическое использование метода шерографии применительно к объектам сложной формы, изготовленным посредством аддитивного производства. Приведены результаты экспериментальных исследований по обнаружению подповерхностных дефектов. Оценены метрологические характеристики шерографа.

Ключевые слова: оптика спеклов, шерография, напряженные состояния.

Цитирование: Левин, Г. Г. Методы шерографии для контроля внутренних дефектов изделий аддитивных технологий / Г. Г. Левин, Г. Н. Вишняков, В. Л. Минаев, А. Д. Иванов // HOLOEXPO 2019 : XVI Международная конференция по голографии и прикладным оптическим технологиям : Тезисы докладов. — М. : МГТУ им. Н. Э. Баумана, 2019. — С. 377–379.