Дифракция света в сегнетоэлектрических кристаллах на периодически поляризованных структурах с заряженными и нейтральными доменными стенками

С. М. Шандаров¹, Е. Н. Савченков¹, С. В. Смирнов¹, А. Е. Шараева¹, В. А. Краковский², Л. Я. Серебренников², А. А. Есин³, А. Р. Ахматханов³, В. Я. Шур³

¹ Томский государственный университет систем управления и радиоэлектроники, Томск, Россия
² ООО «Кристалл Т», Томск, Россия
³ Уральский федеральный университет, Екатеринбург, Россия

Представлены результаты экспериментального исследования и теоретического анализа брэгговской дифракции света на регулярных доменных структурах (РДС) в одноосных сегнетоэлектрических кристаллах со 180° заряженными и нейтральными доменными стенками. Показано, что заряженные доменные стенки, имеющие наклон к полярной оси Z, создают в кристалле периодические возмущения оптических свойств, приводящие при брэгговской дифракции на них зондирующего гауссова светового пучка к расщеплению первого порядка на два максимума, по величине которого угол этого наклона может быть оценен количественно. Получено, что для образца РДС в кристалле 5% MgO:LiNbO3 стенки наклонены на угол α = ±0,31° к полярной оси, то есть имеют электрический заряд, в то время как для РДС в кристаллах 1% MgO:LiTaO3 и KTiOPO4 наклон стенок отсутствует и они являются нейтральными.

Ключевые слова: электрооптика, дифракционные оптические элементы, периодические доменные структуры.

Цитирование: Шандаров, С. М. Дифракция света в сегнетоэлектрических кристаллах на периодически поляризованных структурах с заряженными и нейтральными доменными стенками / С. М. Шандаров, Е. Н. Савченков, С. В. Смирнов, А. Е. Шараева, В. А. Краковский, Л. Я. Серебренников, А. А. Есин, А. Р. Ахматханов, В. Я. Шур // HOLOEXPO 2019 : XVI Международная конференция по голографии и прикладным оптическим технологиям : Тезисы докладов. — М. : МГТУ им. Н. Э. Баумана, 2019. — С. 298–307.