Тиражируемые защитные метки, содержащие случайный рельеф, и контроль их подлинности
Анатолий Матвеевич Смолович1, Леонид Давидович Клебанов2, Иван Дмитриевич Лактаев1, Андрей Петрович Орлов1, 3, 4, Петр Анатольевич Смолович5, Алексей Владимирович Фролов1, Олег Владиславович Бутов1
1 Институт радиотехники и электроники им. В.А. Котельникова Российской академии наук, Москва, Россия
2 IPG Photonics Corp., Oxford, MA, USA
3 Институт нанотехнологий микроэлектроники Российской академии наук, Москва, Россия
4 Институт бионических технологий и инжиниринга, Первый Московский государственный медицинский университет имени И.М. Сеченова, Москва, Россия
5 Twilio Spain SL, Madrid, Spain
Можно исключить возможность контактного копирования голографического рельефа традиционных защитных голограмм, но нельзя исключить возможность их голографического копирования, при котором восстановленная голограммой волна регистрируется повторно на голограмме-копии. В работе экспериментально реализована защитная метка, содержащая участок случайного диффузного рельефа. Голографическое копирование участка невозможно, поскольку он не является голограммой. Участок случайного рельефа является практически уникальным, что позволяет использовать его в качестве защитного элемента. Для идентификации подлинности защитной метки регистрировались спекл-картины, сформированные репликами, как с одного и того же, так и с другого участков случайного рельефа. Затем вычислялась их кросс-корреляция. Предполагается, что предложенные защитные метки могут производиться на стандартном оборудовании, для тиражирования защитных голограмм.
Ключевые слова: Защитная метка, Идентификации подлинности, Случайный рельеф, Спекл, Корреляция.
Цитирование: Смолович, А. М. Тиражируемые защитные метки, содержащие случайный рельеф, и контроль их подлинности / А. М. Смолович, Л. Д. Клебанов, И. Д. Лактаев, А. П. Орлов, П. А. Смолович, А. В. Фролов, О. В. Бутов // HOLOEXPO 2023: 20-я Международная конференция по голографии и прикладным оптическим технологиям (Сочи, 12–15 сентября): Тезисы докладов. — СПб.: Изд-во СПбГЭТУ «ЛЭТИ», 2023. — С. 199–203.