Высокоразрешающая система измерения основных параметров защитных голограмм для оперативного контроля качества и экспертного анализа.

В. П. Бессмельцев, В. В. Вилейко, М. В. Максимов

Институт автоматики и электрометрии СО РАН, Новосибирск, Россия

Рассмотрено устройство и работа созданной в ИАиЭ СО РАН системы измерения основных параметров защитных голограмм. Система объединяет два метода измерений — микроскопический с микронным разрешением и дифракционный. При формировании данных измерения формируется характеристическое изображение с основными параметрами голопикселей синтезированной защитной голограммы: шаге дифракционных решеток, их угловой ориентацией, нормированной интенсивностью отраженного света, а также изображение голограммы в рассеянном свете.

Ключевые слова: Дифракционная решетка, Голопиксел, Цифровая голограмма.

Цитирование: Бессмельцев, В. П. Высокоразрешающая система измерения основных параметров защитных голограмм для оперативного контроля качества и экспертного анализа. / В. П. Бессмельцев, В. В. Вилейко, М. В. Максимов // HOLOEXPO 2019 : XVI Международная конференция по голографии и прикладным оптическим технологиям : Тезисы докладов. — М. : МГТУ им. Н. Э. Баумана, 2019. — С. 102–108.