Крайский. О возможности определения параметров голографических сенсоров на основе галоидного серебра по их спектрам пропускания
HOLOEXPO 2020: XVII Международная конференция по голографии и прикладным оптическим технологиям
Назад37/49Далее

О возможности определения параметров голографических сенсоров на основе галоидного серебра по их спектрам пропускания

Александр Владиславович Крайский1, Антон Александрович Крайский1, Михаил Александрович Шевченко1, Владимир Александрович Постников2, Татьяна Вячеславовна Миронова1, Мишик Айразатович Казарян1

1 Физический институт имени П. Н. Лебедева РАН, Москва, Россия
2 Институт общей и неорганической химии имени Н. С. Курнакова РАН, Москва, Россия

Тезисы доклада

Рассматривается спектр пропускания светового излучения через слой голографического сенсора на основе нанозерен серебра в полимерной матрице. Оптические характеристики слоя рассчитываются в приближении Максвелла Гарнетта. Потери излучения складываются из поглощения света в нанозернах серебра и рэлеевского рассеяния. При слоистой интерференционной структуре имеется брэгговское отражение и в спектре пропускания на фоне, определяющимся поглощением частицами серебра и их рэлеевским рассеянием, формируется соответствующий провал. При гладком спектре фонового пропускания он аппроксимруется с помощью подбора трех параметров. Далее можно определить параметры провала и по ним — параметры голограммы. Возможна оценка эффективного размера зерен и поверхностной плотности серебра. Однако параметры спектра для ряда конкретных спектров зависят от области аппроксимации.

Ключевые слова: голографические сенсоры, нанозерна серебра, спектр пропускания, аппроксимация рэлеевского фона.

Цитирование: Крайский, А. В. О возможности определения параметров голографических сенсоров на основе галоидного серебра по их спектрам пропускания / А. В. Крайский, А. А. Крайский, М. А. Шевченко, В. А. Постников, Т. В. Миронова, М. А. Казарян // HOLOEXPO 2020 : XVII Международная конференция по голографии и прикладным оптическим технологиям : Тезисы докладов. — М. : МГТУ им. Н. Э. Баумана, 2020. — С. 225–234.